loader image

Tescan Sistema automatizado para análisis SEM TIMA

TIMA es una solución especializada para identificación, cuantificación y caracterización automatizada de minerales utilizando microscopía electrónica de barrido y análisis elemental integrado.

Solicita cotizacion

Sin costo • Respuesta en horario hábil


Tip: Si nos dices cantidad, ciudad y la mayor cantidad de detalles posibles, aceleramos tiempos de entrega y configuracion.

Informacion del producto

Aplicaciones

  • Minería
  • Geometalurgia
  • Geología
  • Procesamiento mineral

Segmentos

Características

Productos relacionados

Cargar más

Tescan Amber X

Una combinación única de Plasma FIB y FE-SEM UHR libre de campo para la caracterización de materiales...

Microscopio Vertical de Materiales Leica DM4 M

El Leica DM4 M es el sistema de inspección codificado manual que necesita. Mando de enfoque manual de...

Perfilómetro Óptico 3D NPFlex

‘- Sistema de metrología 3D con flexibilidad sin precedentes, con grandes capacidades de medición...

EMSPIRA

Emspira 3 combina todo lo necesario para realizar una inspección visual completa en un solo sistema,...
Cesta de compras