Tescan Amber X

Una combinación única de Plasma FIB y FE-SEM UHR libre de campo para la caracterización de materiales a multiescala.

  • Alto rendimiento, procesamiento FIB de área grande de hasta 1 mm
  • Preparación de micromuestra sin Ga
  • Ultra alta resolución, imágenes y análisis FEG-SEM sin campos.
  • Detección In-lens SE y BSE
  • Optimización de la resolución para tomografía FIB-SEM multimodal de alto rendimiento
  • Campo de visión superior para facilitar la navegación.
  • Interfaz gráfica de usuario modular Essence™ fácil de usar

Solicita cotizacion

Sin costo • Respuesta en horario hábil

Tip: Si nos dices cantidad, ciudad y la mayor cantidad de detalles posibles, aceleramos tiempos de entrega y configuracion.

Información del producto

Aplicaciones principales de Tescan Amber X:

  • Análisis de Falla
  • Análisis Elemental
  • Cross Sectioning
  • Industria de Materiales

Segmentos

Características

Productos relacionados

Cargar más

Tescan Amber

Aplicaciones principales de Tescan Amber:Análisis de FallaAnálisis ElementalCiencias de la VidaCross...

Leica Microsystems Microscopio Leica DMi8 Versión M

Aplicaciones principales de Leica Microsystems Microscopio Leica DMi8 Versión M:Análisis de FallaCiencias...

Leica Microsystems Microscopio Vertical de Materiales Leica DM4 M

Aplicaciones principales de Leica Microsystems Microscopio Vertical de Materiales Leica DM4 M:Análisis...

Leica Microsystems Plataforma de Software para Aplicaciones Industriales LAS X

Aplicaciones principales de Leica Microsystems Plataforma de Software para Aplicaciones Industriales...
Cesta de compras