Tescan Amber X
Una combinación única de Plasma FIB y FE-SEM UHR libre de campo para la caracterización de materiales a multiescala.
- Alto rendimiento, procesamiento FIB de área grande de hasta 1 mm
- Preparación de micromuestra sin Ga
- Ultra alta resolución, imágenes y análisis FEG-SEM sin campos.
- Detección In-lens SE y BSE
- Optimización de la resolución para tomografía FIB-SEM multimodal de alto rendimiento
- Campo de visión superior para facilitar la navegación.
- Interfaz gráfica de usuario modular Essence™ fácil de usar
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Sin costo • Respuesta en horario hábil
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Información del producto
Aplicaciones principales de Tescan Amber X:
- Análisis de Falla
- Análisis Elemental
- Cross Sectioning
- Industria de Materiales
Características
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