Tescan Amber X

Una combinación única de Plasma FIB y FE-SEM UHR libre de campo para la caracterización de materiales a multiescala.
  • Alto rendimiento, procesamiento FIB de área grande de hasta 1 mm
  • Preparación de micromuestra sin Ga
  • Ultra alta resolución, imágenes y análisis FEG-SEM sin campos.
  • Detección In-lens SE y BSE
  • Optimización de la resolución para tomografía FIB-SEM multimodal de alto rendimiento
  • Campo de visión superior para facilitar la navegación.
  • Interfaz gráfica de usuario modular Essence™ fácil de usar
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