SEM UHR analítico de Campo libre para caracterización de materiales a nano escala.
- Caracterización sin compromiso de todo tipo de materiales a nanoescala
- Ideal para la caracterización de materiales a bajas energías de haz con máxima topografía de la superficie.
- Excelente imagen de muestras sensibles al haz y no conductoras
- Configuración del haz de electrones totalmente automatizada: las condiciones de imagen óptima están garantizadas por In-Flight Beam Tracing™
- Navegación intuitiva en vivo de la muestra SEM con un aumento de hasta 2× sin necesidad de una cámara óptica de navegación adicional gracias al diseño Wide Field Optics™
- Diseño exclusivo de Multidetector In-Beam que permite la detección de BSE de ángulo y energía selectivos
- Software intuitivo de plataforma modular diseñado para operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de habilidad de los usuarios
