Tescan Amber

FIB-SEM nano analítico versátil para amplias capacidades de investigación de materiales.
  • Preparación de micro muestras con alta precisión
  • Imagen SEM libre de campos con ultra alta resolución con nano análisis
  • Campo de visión extendido con fácil navegación.
  • Automatización multisitio del proceso.
  • Tomografía FIB-SEM multimodal.
  • Interfaz de usuario con software modular de fácil uso.
  • Atractivos paquetes opcionales para diversas aplicaciones.
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