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Tescan Microscopio electrónico de barrido FE-SEM MIRA

MIRA es un FE-SEM versátil diseñado para investigación avanzada y caracterización de materiales, ofreciendo imágenes de alta resolución y compatibilidad con múltiples detectores analíticos.

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Informacion del producto

Aplicaciones

  • Nanotecnología
  • Ciencia de materiales
  • Electrónica
  • Investigación académica

Segmentos

Características

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