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Tescan Microscopio electrónico de barrido FE-SEM MIRA

MIRA es un FE-SEM versátil diseñado para investigación avanzada y caracterización de materiales, ofreciendo imágenes de alta resolución y compatibilidad con múltiples detectores analíticos.

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Información del producto

Aplicaciones principales de Tescan Microscopio electrónico de barrido FE-SEM MIRA:

  • Académicos
  • Análisis de Falla
  • Análisis Elemental
  • Análisis Fisicoquímicos
  • Ciencias Ambientales y Agrícolas
  • Ciencias de la Vida
  • Ciencias de los materiales
  • Comparación Balística
  • Comparación de Fibras
  • Conteo de Partículas (Limpieza)

Segmentos

Características

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