TESCAN AMBER para combinar corte por haz de iones e imagen electrónica en investigación de materiales. Conoce la solución en aspelab®.
TESCAN AMBER permite combinar corte por haz de iones e imagen electrónica en investigación de materiales. Consulta aplicaciones y configuración con aspelab®.
Responde a la necesidad de combinar corte por haz de iones e imagen electrónica en investigación de materiales dentro de un flujo de trabajo de laboratorio.
TESCAN AMBER es una plataforma FIB-SEM para preparación y caracterización de materiales. Permite combinar corte por haz de iones e imagen electrónica en investigación de materiales.
TESCAN AMBER es una plataforma FIB-SEM para preparación y caracterización de materiales.
Se utiliza para combinar corte por haz de iones e imagen electrónica en investigación de materiales.
Preparación de micromuestras; Imagen SEM; Tomografía FIB-SEM; Automatización multisitio.
Se revisan el material, la geometría y preparación de la muestra, el resultado buscado y los accesorios o módulos necesarios para el método de análisis.
Indica TESCAN AMBER, la aplicación, el tipo de muestra y los accesorios o cantidades requeridos para definir el alcance de la propuesta."}]