Tescan Amber
FIB-SEM nano analítico versátil para amplias capacidades de investigación de materiales.
- Preparación de micro muestras con alta precisión
- Imagen SEM libre de campos con ultra alta resolución con nano análisis
- Campo de visión extendido con fácil navegación.
- Automatización multisitio del proceso.
- Tomografía FIB-SEM multimodal.
- Interfaz de usuario con software modular de fácil uso.
- Atractivos paquetes opcionales para diversas aplicaciones.
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