ProductosAplicacionesInvestigaciónAcadémicosBruker Microscopio de Fuerza A...
El Bruker Dimension Icon AFM ofrece caracterización nanométrica de superficies con máxima resolución y precisión para investigación, nanotecnología y ciencia de materiales.
Obtenga imágenes y mediciones nanométricas con el Bruker Dimension Icon AFM una plataforma líder para caracterización avanzada de materiales, superficies y nanodispositivos.
Permite estudiar con precisión nanométrica propiedades superficiales que no pueden analizarse mediante microscopía convencional, facilitando el desarrollo de nuevos materiales, dispositivos electrónicos, recubrimientos y nanocomponentes con mayor desempeño, calidad y confiabilidad.
El Bruker Dimension Icon es un microscopio de fuerza atómica (AFM) de referencia para investigación científica y desarrollo tecnológico. Diseñado para ofrecer máxima resolución, estabilidad y repetibilidad, permite caracterizar topografía, rugosidad, propiedades mecánicas, eléctricas, magnéticas, térmicas y químicas de materiales a escala nanométrica mediante una amplia variedad de modos avanzados de operación. Es una plataforma ampliamente utilizada en nanotecnología, semiconductores, ciencia de materiales y laboratorios de investigación de alto nivel.
Es un microscopio de fuerza atómica de alto desempeño diseñado para caracterizar materiales y superficies con resolución nanométrica y una amplia variedad de modos de análisis avanzados.
Puede evaluar topografía, rugosidad, elasticidad, dureza, adhesión, conductividad eléctrica, propiedades magnéticas, comportamiento térmico y otras características superficiales mediante diferentes técnicas AFM.
Es compatible con semiconductores, metales, polímeros, cerámicos, biomateriales, películas delgadas, materiales bidimensionales, dispositivos MEMS, recubrimientos y nanomateriales avanzados.
Se utiliza en nanotecnología, ciencia de materiales, semiconductores, electrónica, energía, investigación universitaria, dispositivos médicos, desarrollo de recubrimientos y laboratorios de investigación avanzada.
Combina una resolución excepcional, gran estabilidad mecánica, amplia disponibilidad de modos de caracterización y una plataforma escalable que permite abordar desde investigación fundamental hasta desarrollo tecnológico e innovación industrial, convirtiéndose en uno de los sistemas AFM más reconocidos a nivel mundial."}]