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El Bruker Dimension FastScan AFM ofrece imágenes nanométricas de alta resolución y alta velocidad para investigación en nanotecnología, materiales avanzados y semiconductores.
Capture imágenes nanométricas con rapidez y precisión utilizando el Bruker Dimension FastScan AFM diseñado para investigación avanzada en materiales y nanotecnología.
Reduce considerablemente los tiempos de adquisición de imágenes AFM sin comprometer la resolución, permitiendo analizar un mayor número de muestras, estudiar procesos dinámicos y acelerar el desarrollo de materiales, dispositivos electrónicos y nanomateriales.
El Bruker Dimension FastScan es un microscopio de fuerza atómica (AFM) de alta velocidad que combina resolución nanométrica con una adquisición de imágenes significativamente más rápida que los sistemas AFM convencionales. Está diseñado para caracterizar topografía, rugosidad y propiedades mecánicas, eléctricas y magnéticas de materiales avanzados, permitiendo estudios dinámicos y aumentando la productividad en investigación y desarrollo.
Es un microscopio de fuerza atómica diseñado para obtener imágenes de alta resolución con velocidades de adquisición superiores a las de un AFM convencional.
Permite reducir significativamente el tiempo necesario para obtener imágenes nanométricas, aumentando la productividad y facilitando el estudio de procesos dinámicos sin perder precisión.
Puede caracterizar topografía, rugosidad, elasticidad, adhesión, propiedades eléctricas, magnéticas y otras características superficiales mediante diferentes modos de operación AFM.
Se utiliza en nanotecnología, ciencia de materiales, semiconductores, electrónica, polímeros, recubrimientos, dispositivos MEMS, investigación universitaria y desarrollo de nuevos materiales.
Porque combina la reconocida precisión de la familia Dimension de Bruker con tecnología de adquisición rápida que permite obtener resultados confiables en menos tiempo, optimizando la investigación y el control de calidad de materiales avanzados."}]