Bruker Nano Surfaces DektakXT
El **Dektak XT** de Bruker es un perfilómetro avanzado que mide la rugosidad de superficies y el grosor de películas con alta precisión. Ofrece tecnología de punta en sensor táctil y software intuitivo para resultados rápidos y fiables en investigación y producción, ideal para semiconductores y materiales biomédicos.
Productos relacionados
Pueden ser de tu interés
Perfilómetro Óptico 3D Contour-X 100, 200 y 500
'- Este equipo establece el nuevo estándar de la industria en diseño y costo en la metrología de superficie....
Perfilómetro Óptico 3D NPFlex
‘- Sistema de metrología 3D con flexibilidad sin precedentes, con grandes capacidades de medición...
Cabina de Flujo Laminar Vertical Aeolus V
Cabina vertical de aire estéril ISO 3, flujo descendente para una protección optimizada de los productos...
Liofilizador piloto y de laboratorio Lyobeta Mini 2P
La familia Lyobeta de liofilizadores de laboratorio e I+D cumple con las más exigentes especificaciones...