Bruker Nano Surfaces Contour-X
•El sistema de mesa más avanzado para metrología 3D con la mejor resolución en Z independiente de la magnificación.
•El perfilómetro óptico se configura fácilmente para un amplio rango de aplicaciones complejas, desde metrología QA/QC de superficies maquinadas con precisión y procesos de semiconductores hasta caracterización de oftálmicos y MEMS.
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