ProductosAplicacionesInvestigaciónAcadémicosBruker Nano Surfaces Contour-X
El Bruker Nano Surfaces Contour-X es una solución de Bruker orientada a Académicos, Ciencias de los materiales, Industria de Materiales.
Su incorporación al laboratorio permite centralizar este tipo de trabajo dentro de un flujo de análisis organizado. Para definir la configuración adecuada, se recomienda revisar la aplicación, el tipo de muestra y los requerimientos particulares del proyecto.
Analice la topografía y características superficiales de materiales con el Bruker Contour-X una solución avanzada de metrología óptica sin contacto.
Permite evaluar imperfecciones superficiales, variaciones de altura, rugosidad y características geométricas en materiales donde las técnicas tradicionales pueden ser insuficientes, ayudando a mejorar procesos de fabricación, investigación y validación de productos.
El Bruker Contour-X es un sistema de metrología óptica 3D diseñado para caracterizar superficies mediante mediciones sin contacto. Permite analizar topografía, rugosidad, altura de escalones, defectos y características microscópicas de materiales con alta precisión, proporcionando información detallada para investigación, desarrollo y control de calidad.
Es un sistema de metrología óptica 3D que permite analizar la estructura y características de superficies mediante mediciones sin contacto.
Puede evaluar rugosidad superficial, topografía, altura de escalones, defectos, geometrías microscópicas y variaciones de superficie.
Puede analizar materiales como metales, polímeros, semiconductores, recubrimientos, componentes electrónicos y materiales avanzados.
Permite estudiar muestras delicadas sin alterar su superficie y obtener información precisa sin preparación compleja.
Es utilizado en investigación de materiales, electrónica, semiconductores, manufactura avanzada, automotriz, aeroespacial y laboratorios de control de calidad.**"}]