ProductosAplicacionesIndustria de MaterialesAnálisis de FallaDelong Instruments LVEM 25e
El Delong Instruments LVEM 25e es una solución de Delong Instruments orientada a Análisis de Falla, Análisis Elemental, Ciencias de la Vida.
Su incorporación al laboratorio permite centralizar este tipo de trabajo dentro de un flujo de análisis organizado. Para definir la configuración adecuada, se recomienda revisar la aplicación, el tipo de muestra y los requerimientos particulares del proyecto.
Descubra un microscopio electrónico compacto que combina TEM SEM STEM y difracción electrónica para investigación avanzada en materiales y nanotecnología.
Permite realizar múltiples técnicas de microscopía electrónica en un solo instrumento compacto reduciendo el espacio requerido el costo de adquisición y los tiempos de análisis mientras proporciona imágenes de alta resolución para investigación desarrollo y control de calidad.
El Delong LVEM25E es un microscopio electrónico de bajo voltaje de sobremesa que integra en un solo equipo las técnicas de Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM), Microscopía Electrónica de Barrido (SEM), Microscopía Electrónica de Transmisión por Barrido (STEM) y Difracción Electrónica (ED). Su diseño compacto permite obtener imágenes de alta resolución con un contraste excepcional para la caracterización de nanomateriales, polímeros, materiales biológicos y partículas ultrafinas.
Es un microscopio electrónico compacto que integra TEM SEM STEM y difracción electrónica en un solo instrumento.
El funcionamiento a 25 kV proporciona un mayor contraste especialmente en materiales ligeros polímeros y muestras biológicas además de reducir el daño por haz electrónico.
Es ideal para nanotecnología ciencia de materiales biología farmacéutica polímeros semiconductores investigación académica y control de calidad.
El LVEM25E combina varias técnicas analíticas en un diseño compacto con menores requerimientos de instalación mantenimiento y operación sin sacrificar la calidad de imagen para numerosas aplicaciones.
Puede analizar nanopartículas polímeros fibras materiales compuestos células virus tejidos ultrafinos películas delgadas materiales electrónicos y una amplia variedad de muestras preparadas para microscopía electrónica."}]