ProductosAmplio recorrido de escaneo en...Bruker Nano Surfaces NPFLEX-10...
El Bruker Nano Surfaces NPFLEX-1000 es una solución de Bruker orientada a Académicos, Ciencias de los materiales, Industria de Materiales.
Su incorporación al laboratorio permite centralizar este tipo de trabajo dentro de un flujo de análisis organizado. Para definir la configuración adecuada, se recomienda revisar la aplicación, el tipo de muestra y los requerimientos particulares del proyecto.
Analice superficies de gran tamaño con precisión nanométrica utilizando el perfilómetro óptico 3D Bruker NPFLEX-1000 para investigación y control de calidad.
Permite medir superficies de gran tamaño con alta precisión sin contacto evitando daños en piezas delicadas y proporcionando datos tridimensionales confiables para evaluar calidad procesos de manufactura desgaste y acabado superficial.
El Bruker NPFLEX-1000 es un perfilómetro óptico 3D sin contacto diseñado para caracterizar la topografía superficial de componentes de gran tamaño mediante interferometría de luz blanca. Permite medir rugosidad textura escalones desgaste planitud y geometrías complejas con resolución nanométrica sin dañar la muestra, siendo ideal para laboratorios de metrología investigación y control de calidad industrial.
Es un perfilómetro óptico 3D sin contacto diseñado para medir topografía rugosidad y geometría superficial de componentes de gran tamaño con resolución nanométrica.
Puede medir rugosidad planitud escalones volumen desgaste textura superficial espesor de películas y geometrías tridimensionales sin contacto físico con la muestra.
Es ampliamente utilizado en semiconductores automotriz aeroespacial dispositivos médicos óptica de precisión metalmecánica ciencia de materiales y laboratorios de metrología.
Elimina el riesgo de dañar la superficie permite medir materiales delicados realiza adquisiciones más rápidas y genera mapas tridimensionales completos con resolución nanométrica.
El NPFLEX-1000 utiliza el software Bruker Vision64 que permite adquirir procesar analizar y generar reportes completos de medición cumpliendo con estándares internacionales de metrología."}]