Tescan Solaris X

Tescan Solaris X

Aplicaciones principales de Tescan Solaris X:

Análisis de Falla
Cross Sectioning
Industria de Materiales

Categorías: Análisis de Falla, Ciencias de la Vida, Ciencias de los materiales, Cross Sectioning, FIB SEM, FIB-SEM, Industria de Materiales, Microscopios Electrónicos, Microscopios Electrónicos, Microscopios Ópticos, Preparación de Muestras para ME, Tescan, Verticales, Xenon Etiquetas: Configuración modular, FIB-SEM, Microscopía electrónica de barrido, Tecnología FIB-SEM Brand: Tescan

Descripción
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Descripción

Una plataforma de Plasma FIB-SEM para seccionamiento profundo para análisis de fallas a nivel paquete con la resolución más alta

Corte transversal de área grande libre para el análisis de fallas físicas con paquete de tecnologías avanzadas
Prepare grandes secciones transversales FIB de hasta 1 mm de ancho
Obtenga imágenes de alta resolución con bajo ruido en keV en tiempo de adquisición corto de coincidencia FIB-SEM con la muestra inclinada
Monitoreo SEM en vivo durante el fresado FIB para un apunte final preciso

Observe los materiales sensibles al haz utilizando bajos keVs de resolución ultra alta con alto contraste de material para superficie sensible
Técnicas y recetas efectivas para seccionamiento transversal rápido de muestras compuestas libre de artefactos (pantallas OLED y TFT, dispositivos MEMS, dieléctricos de aislamiento) con altas corrientes
Interfaz de usuario modular Essence™ fácil de usar

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