Tescan Clara
SEM UHR analítico de Campo libre para caracterización de materiales a nano escala.
- Caracterización sin compromiso de todo tipo de materiales a nanoescala
- Ideal para la caracterización de materiales a bajas energías de haz con máxima topografía de la superficie.
- Excelente imagen de muestras sensibles al haz y no conductoras
- Configuración del haz de electrones totalmente automatizada: las condiciones de imagen óptima están garantizadas por In-Flight Beam Tracing™
- Navegación intuitiva en vivo de la muestra SEM con un aumento de hasta 2× sin necesidad de una cámara óptica de navegación adicional gracias al diseño Wide Field Optics™
- Diseño exclusivo de Multidetector In-Beam que permite la detección de BSE de ángulo y energía selectivos
- Software intuitivo de plataforma modular diseñado para operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de habilidad de los usuarios
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Sin costo • Respuesta en horario hábil
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Información del producto
Aplicaciones principales de Tescan Clara:
- Académicos
- Análisis de Falla
- Análisis Elemental
- Análisis Fisicoquímicos
- Biología Molecular
- Ciencias Ambientales y Agrícolas
- Ciencias de la Vida
- Ciencias de los materiales
- Comparación Balística
- Comparación de Fibras
Características
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