Tescan Clara

SEM UHR analítico de Campo libre para caracterización de materiales a nano escala.

Caracterización sin compromiso de todo tipo de materiales a nanoescala
Ideal para la caracterización de materiales a bajas energías de haz con máxima topografía de la superficie.
Excelente imagen de muestras sensibles al haz y no conductoras
Configuración del haz de electrones totalmente automatizada: las condiciones de imagen óptima están garantizadas por In-Flight Beam Tracing™

Navegación intuitiva en vivo de la muestra SEM con un aumento de hasta 2× sin necesidad de una cámara óptica de navegación adicional gracias al diseño Wide Field Optics™
Diseño exclusivo de Multidetector In-Beam que permite la detección de BSE de ángulo y energía selectivos
Software intuitivo de plataforma modular diseñado para operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de habilidad de los usuarios

Productos relacionados

Pueden ser de tu interés

Leica CM1520 es el criostato más rentable disponible para el crioseccionado, incluidas aplicaciones críticas...

El sistema modular de inclusión de tejidos HistoCore Arcadia está formado por dos productos independientes:...

Innovador y genuino crista frontal deslizante, diseñado para ajustarse fácilmente a una apertura de trabajo...

La familia Lyobeta de liofilizadores de laboratorio e I+D cumple con las más exigentes especificaciones...

El primer micro-TC dinámico dedicado del mundo para sus necesidades experimentales in situ. TC dinámica...

Estación totalmente automatizada de IHC e ISH para mejorar la calidad, consistencia y productividad....

El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) de 4ta generación VEGA de TESCAN con fuente de electrones...

Cabina vertical de aire estéril ISO 3, flujo descendente para una protección optimizada de los productos...