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Avances Tecnologicos en Microscopia Electrónica y Técnicas de Imagen con mCT
Se presentarán avances tecnológicos en mCT y FIB-SEM, con aplicaciones para automotriz, semiconductores, petróleo, materiales y nano. Habrá espacio para resolver dudas y orientar la selección de técnicas adecuadas para sus necesidades.
No necesitas Experiencia
No es requisito. aunque se abordaran temas técnicos
Ponentes Expertos
Contaremos con gente experta en el tema
Distintas Formaciones
Control de Calidad, investigación & desarrollo e Ingeniería
18 de Octubre | 10:00 – 14:00 h (GMT-6)
- CENAM, El Marqués, Querétaro - 2025
Domicilio del evento: Centro Nacional de Metrología (CENAM) km 4.5 carretera a los Cues, 76246 Municipio del Marques, Qro.
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