Seminario

Avances Tecnologicos en Microscopia Electrónica y Técnicas de Imagen con mCT

Conoce el programa completo de este evento

Bienvenida

directivo del CENAM

Introducción

Introducción de Aspelab y su representada TESCAN

Avances Tecnologicos
Avances tecnológicos en los últimos años en técnicas analíticas de imagen mCT (tomógrafos computarizado industrial) y FIB-SEM (Microscopia Electrónica de Barrido de Emisión de campo y Cañón de Enfoque por Iones de Galio y Plasma).
Aplicaciones
Usos y aplicaciones en sector industrial e Investigación y desarrollo (Automotriz, Semiconductores, Petróleo, Nano), de mCT
FIB-SEM
FIB-SEM en Ciencia de material y Aplicaciones NANO.
Ablación Láser
Principios de Ablación Láser y aplicaciones.
Sesión de preguntas
Para responder cualquier duda que puedan tener.