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Seminario

Avances Tecnologicos en Microscopia Electrónica y Técnicas de Imagen con mCT

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Bienvenida

Por personal de CINVESTAV

Introducción

Introducción de Aspelab y su representada TESCAN

Avances Tecnologicos

Avances tecnológicos en los últimos años en técnicas analíticas de imagen mCT (tomógrafos computarizado industrial), FIB-SEM (Microscopia Electrónica de Barrido de Emisión de campo y Cañón de Enfoque por Iones de Galio y Plasma) y Katana (Ultramicrotomo para microscopía de volumen).

Aplicaciones

Usos y aplicaciones en sector industrial e Investigación y desarrollo (Automotriz, Semiconductores, Petróleo, Nano), de mCT

FIB-SEM

FIB-SEM en Ciencia de material y Aplicaciones NANO.

Ablación Láser
Principios de Ablación Láser y aplicaciones en FIB-SEM.
Microscopía de volumen para ciencias de la vida

Aplicaciones de ultramicrótomo en microscopía electrónica

Sesión de preguntas
Para responder cualquier duda que puedan tener.